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本发明公开了一种基于缺陷熵动态深度推理的Micro LED检测方法和系统，涉及图像分类领域，用以兼顾检测效率和准确率。本发明利用训练的神经网络模型对待推理的Micro LED图像的类别进行推理；其中，根据所述待推理的Micro LED图像的...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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