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本发明提供了一种沾污件表面核材料无损测量装置及方法，所述装置包括低本底铅屏蔽室、测试平台、位置调节机构和探测器。所述低本底铅屏蔽室内设有测试平台，所述测试平台放置有待测沾污件；所述位置调节机构包括执行机构和驱动机构，所述执行机构一端与所述测...
该专利属于核工业理化工程研究院所有，仅供学习研究参考，未经过核工业理化工程研究院授权不得商用。

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