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本公开提供了一种缺陷识别方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待处理图像；其中，所述待处理图像中包含待识别工件图像；将所述待处理图像输入至缺陷识别模型中进行缺陷识别处理，得到缺陷识别结果；所述缺陷识别结果用于指示所述待识别工...
该专利属于中移（上海）信息通信科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中移（上海）信息通信科技有限公司授权不得商用。

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