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本发明提供一种芯片算力测评方法、装置及设备。该方法包括：获取与芯片算力测评相关的配置信息；根据所述配置信息，确定芯片的可用阵列、神经网络以及阵列运算周期，所述神经网络部署于所述芯片；根据所述芯片的可用阵列、所述神经网络以及所述阵列运算周期，...
该专利属于中国移动通信有限公司研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国移动通信有限公司研究院授权不得商用。

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