温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种基于条件生成对抗网络的Mura缺陷分类方法及相关设备，可有效的提高模型的泛化能力和模型的通用性，减少模型的误判率，从而实现对Mura缺陷图像进行有效的分类处理。本申请方法包括：获取显示屏的Mura缺陷图像；利用CGAN网络模...
该专利属于深圳精智达技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳精智达技术股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。