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本发明提供一种提升低比特位模型精度的方法，所述方法根据已经收敛的全精度模型或8bit模型进行实际数据的测试，统计和分析每一层的feature分布情况，得到一个更合理的clip值，从而降低后续量化模型带来的精度损失，试验证明，该方法对那些和默...
该专利属于北京君正集成电路股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京君正集成电路股份有限公司授权不得商用。

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