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一种半导体测试装置制造方法及图纸
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下载一种半导体测试装置的技术资料
文档序号:4297245
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本实用新型提供了一种半导体电信号测试装置,包括:两只金手指,对称的分列在测试装置左右,用以接触半导体的晶片引脚;一个上支架和一个下支架,与两只金手指连接形成一个整体,中间空处放置被测晶片;以及一个气动压合装置,设在该整体的正上方起施力作用。...
该专利属于正文电子(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过正文电子(苏州)有限公司授权不得商用。
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