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本发明属集成电路领域，具体为一种针对多运算单元／多核／众核系统的自测试自修复机制与结构，包括被测单元，向量生成器，测试向量分配器，运算结果分发器，比较器，测试结果表，动态分配算法。其中被测单元为需要测试的处理单元；向量生成器生成、存储测试向...
该专利属于上海芯豪微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯豪微电子有限公司授权不得商用。

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