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多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构技术方案
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下载多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构的技术资料
文档序号:4292186
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本发明属集成电路领域,具体为一种针对多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构,包括被测单元,向量生成器,测试向量分配器,运算结果分发器,比较器,测试结果表,动态分配算法。其中被测单元为需要测试的处理单元;向量生成器生成、存储测试向...
该专利属于上海芯豪微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海芯豪微电子有限公司授权不得商用。
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