下载使用集成光子设备的并行光学相干断层扫描术系统的技术资料

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公开了适合于并行光学相干断层扫描的集成光子芯片和相关的系统和方法,其包括多路复用数据检测和将多路复用数据传输到DAC的单个通道或并行数据检测和将并行数据传输到多通道DAC的单独通道。...
该专利属于华盛顿大学所有,仅供学习研究参考,未经过华盛顿大学授权不得商用。

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