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本发明提供了一种评估线性MOSFET应用能力的测试系统和方法，包括基于线性MOSFET的待测回路、信号发生装置、探测装置和显示装置；基于线性MOSFET的待测回路包括待测线性MOSFET、直流电压源和阻性负载；待测线性MOSFET的漏极经阻...
该专利属于龙腾半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过龙腾半导体股份有限公司授权不得商用。

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