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本技术公开了一种运用激光技术检测的固体样品元素分析仪，包括底板，所述底板顶部的左侧固定连接有竖板，所述底板顶部右侧的前侧固定连接有基座，所述基座的后侧固定连接有支撑块，所述支撑块的顶部固定连接有顶板，所述顶板底部的前侧固定连接有激光检测头，...
该专利属于北京天仪科技中心（有限合伙）所有，仅供学习研究参考，未经过北京天仪科技中心（有限合伙）授权不得商用。

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