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本技术涉及检测技术领域，并公开了样本处理装置，包括底座，所述底座上方设置有前处理机构与后处理机构，所述后处理机构等距设置有多个，所述前处理机构包括设置在底座上方的放置板，呈阵列式开设在所述放置板上表面的试管定位孔，安装在所述放置板外侧的振动...
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