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本发明涉及集成光学器件的性能测试领域，具体指的是一种基于ＦＰＧＡ的快速测试铌酸锂光学调制器的半波电压测试方法。该方法用四态调制方式来快速跟踪铌酸锂光学调制器半波电压的变化，可以测试铌酸锂光学调制器在整个温度变化范围内的半波电压值并记录相对应...
该专利属于上海亨通光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海亨通光电科技有限公司授权不得商用。

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