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本技术属于测试装置技术领域，尤其为一种电路板生产用残次品测试装置，包括箱体，所述箱体上表面开设有推料槽，所述推料槽内部一侧开设有废料口，所述废料口底部设有废料箱，所述推料槽内部另一侧开设有镶嵌槽，本技术通过设置转盘、转动柱、推杆、推料板和推...
该专利属于大丰双展电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大丰双展电子科技有限公司授权不得商用。

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