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小基高比立体测绘光学系统，采用完全共用主镜、次镜、三镜和平面折转镜的同轴三反射镜系统，偏视场使用，由两个独立的光学成像路径组合成。两组入射光线具有１°～６°夹角，分别依次到达主镜、次镜和三镜，最终再由平面镜折转到两个分立的接收像面上分别成像...
该专利属于北京空间机电研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京空间机电研究所授权不得商用。

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