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本发明公开了一种汽车芯片检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:识别汽车芯片型号,获取汽车芯片的模拟环境;在所述模拟环境下,依据检测规则进行检测;通过显微镜捕捉所述检测过程中所述汽车芯片的图像;通过计算机深度学习,识别所述图像中的异常缺...该专利属于长春汽车检测中心有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长春汽车检测中心有限责任公司授权不得商用。
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本发明公开了一种汽车芯片检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:识别汽车芯片型号,获取汽车芯片的模拟环境;在所述模拟环境下,依据检测规则进行检测;通过显微镜捕捉所述检测过程中所述汽车芯片的图像;通过计算机深度学习,识别所述图像中的异常缺...