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本发明提供了一种电子元器件缺陷识别方法，涉及图像识别技术领域，该方法包括：采集电子元器件的结构图像，并对结构图像进行降噪处理，得到降噪图像；通过图像分割技术将降噪图像划分为若干个分割图像；提取全部分割图像的显著点；分别计算分割图像中全部像素...
该专利属于俐玛光电科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过俐玛光电科技（北京）有限公司授权不得商用。

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