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本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤１，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤２，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤３，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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