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本申请公开了一种电子元件导通测试台，涉及电子元件测试领域，改善了测试插口易受灰尘影响的问题，包括台座，所述台座的顶面一侧设置有仪表台，所述台座的顶面开设有多个安装槽，多个所述安装槽的内底面均开设有多个测试插口，多个所述安装槽的内壁均开设有导...
该专利属于西安友邦智创信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安友邦智创信息科技有限公司授权不得商用。

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