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本发明提供一种雷射测距装置及其控制方法，该雷射测距装置包括：发射组件，第一及第二液晶显示模块、接收组件、聚焦透镜以及控制单元，其中在测量时，该发射组件发射测量光，并同时控制该第一液晶显示模块为不透光状态及第二液晶显示模块为透光状态以使该接收...
该专利属于亚洲光学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过亚洲光学股份有限公司授权不得商用。

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