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本申请提供一种测试数据处理方法及计算机设备，属于半导体测试技术领域。该测试数据处理方法包括：根据用户输入的测试参数，生成平台无关测试配置信息；根据用户选择的测试机类别以及平台无关测试配置信息，生成平台相关测试配置信息；根据用户选择的测试机类...
该专利属于西安华讯微芯科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安华讯微芯科技有限责任公司授权不得商用。

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