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MEMS传感器的诊断方法及诊断系统技术方案
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文档序号:42659340
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本公开的目的在于验证MEMS传感器所使用的响应函数中的响应系数的重写和更新是否已成功。重写控制步骤(ST1)包括响应于来自外部系统的响应系数的重写指令,使存储装置执行将响应系数从第一响应系数重写为第二响应系数的重写过程。更新控制步骤(ST2...
该专利属于松下知识产权经营株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下知识产权经营株式会社授权不得商用。
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