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本发明提供一种基于实测数据的天基红外吸收带探测能力分析方法，其包括针对探测器的红外波段，执行：步骤1：根据被探测目标的实测数据，获取被探测目标的本体辐射特性；步骤2：根据被探测目标的本体辐射特性，进行探测能力分析；其中步骤1包括步骤11：根...
该专利属于北京应互科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京应互科技有限公司授权不得商用。

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