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本发明涉及一种光开关通道衰减测试方法。它解决了现有技术中光开关衰减测试方法难以确定具体光通道的衰减值且难以进行针对性调节的问题。它包括S1、将测试光开关设置于光纤上；S2、在测试光开关两端分别设置若干分段式光功率采集装置；S3、利用分段式光...
该专利属于浙江振东光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江振东光电科技有限公司授权不得商用。

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