专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
南京工业大学
>
一种基于改进YOLOv8s的PCB小目标缺陷检测方法技术
>技术资料下载
下载一种基于改进YOLOv8s的PCB小目标缺陷检测方法的技术资料
文档序号:42649077
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提出一种基于YOLOv8s优化的PCB小目标缺陷检测算法。通过增设小目标检测层与检测头,提升小目标识别率。引入S‑Conv与CAFM于骨干网络,融合多尺度特征,增强特征表示。设计高效空间金字塔池化层,结合可变形卷积与空间信息增强模块,...
该专利属于南京工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京工业大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。