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本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统，属于计算机技术领域。方法包括：响应于算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；生成与算法测试参数匹配的测试数据；发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片，以及接收待测安全芯片基于...
该专利属于北京智芯微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯微电子科技有限公司授权不得商用。

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