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一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置制造方法及图纸
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下载一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置的技术资料
文档序号:4263749
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本发明涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。本发明中,通过修改上位机软件中的参考量化值(ADset),补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差,节约了硬件电路中的可调器件,又实现了远程的生产调试,提高了调试效率...
该专利属于三科电器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过三科电器有限公司授权不得商用。
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