温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种基于缺陷描述的缺陷分类方法及系统，其中方法包括以下步骤：获得缺陷图像和对应的缺陷描述文本；将所述缺陷图像送入视觉编码器中进行编码，得到视觉特征；将所述缺陷描述文本送入语义编码器中进行编码，得到语义特征；将所述视觉特征送入多层感...
该专利属于华院计算技术（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华院计算技术（上海）股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。