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本发明属于涉及以太网测试领域，具体涉及一种以太网测试系统及测试方法，包括网络交换芯片、多个1000BASE‑T网口以及多个1000BASE‑X网口。本发明避免了级联设计缺陷，可提供1000BASE‑T、1000BASE‑X及1000BASE...
该专利属于陕西千山航空电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西千山航空电子有限责任公司授权不得商用。

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