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本技术属于芯片测试治具技术领域，具体的说是一种可翻转的OPA芯片测试治具，包括底板；所述底板顶部设置有驱动柱；所述驱动柱输出端连接有转动台；所述转动台端部设置有转动轴；所述转动轴侧壁固接有翻转块；所述翻转块底部固接有第一支撑板；所述第一支撑...
该专利属于扬州群发光芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过扬州群发光芯科技有限公司授权不得商用。

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