温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种多源X射线薄壁结构高精度原位检测装置及方法，涉及成像检测技术领域。该装置包括：直流高压电源模块电路，用于采用数字电源控制、LCC拓扑、SiC高频驱动、驱动控制算法，实现多影响因素融合闭环，输出脉冲式高压，供X射线管产生X射线...
该专利属于中国人民解放军火箭军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军火箭军工程大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。