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一种新世代周边连接接口的测试系统及其测试方法，用于测试具有新世代周边连接接口（Ｐｅｒｉｐｈｅｒａｌ？Ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ？Ｉｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔ？Ｅｘｐｒｅｓｓ，ＰＣＩＥ）的待测设备。首先，将交换器电性连接于测试主机与待测设备之间，在交换器...该专利属于英业达集团（天津）电子技术有限公司;英业达股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过英业达集团（天津）电子技术有限公司;英业达股份有限公司授权不得商用。