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本申请涉及人工智能技术领域，公开了一种基于图像分析的SMT缺陷诊断与改进方法及系统，其中，所述方法包括获取目标产品的表面贴装图像；通过特征提取模型提取所述表面贴装图像的初始图像特征；基于特征降维模型对所述初始图像特征进行降维处理，得到降维图...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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