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本发明提供的制程对IR压降分布的影响预估方法、系统、终端及介质，具体涉及芯片设计技术领域，方案包括：获取在目标制程下生产的待估IR压降分布图；利用训练好的目标深度学习模型对待估IR压降分布图进行预估，获得优化后的IR压降分布图，且利用预流片...
该专利属于珠海凌烟阁芯片科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海凌烟阁芯片科技有限公司授权不得商用。

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