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上海星宇智行技术有限公司
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基于Simulink应用层模型的MCDC覆盖度测试方法技术
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下载基于Simulink应用层模型的MCDC覆盖度测试方法的技术资料
文档序号:42556048
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本发明公开了一种基于Simulink应用层模型的MCDC覆盖度测试方法,包括:S1、确定需要测试的模块X,并将模块X从整体算法模型中剥离出来保存在Simulink文件中形成新模型Y;S2、在新模型Y中设计与模块X的输入数据类型相同的输入信号...
该专利属于上海星宇智行技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海星宇智行技术有限公司授权不得商用。
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