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本发明涉及角位移测量技术领域，更具体地，涉及一种可变量程的高分辨率角位移测量装置及方法。当待测角度较小时，装置为高分辨率模式，此时探测器上的两光斑叠加干涉，利用干涉效应进行角位移测量；当待测角度较大时，装置为大量程模式，此时探测器上的两光斑...
该专利属于中山大学所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学授权不得商用。

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