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本发明公开了一种基于相位统计的电离层测高仪O波与X波分离方法，属于电离层探测技术领域。本发明首先对双通道信号取模后进行非相干相加得到频率‑虚高‑能量图，对双通道信号进行相比后求相位角得到频谱‑虚高‑相位差图；然后利用恒虚警方法对频率‑虚高‑...
该专利属于崂山国家实验室所有，仅供学习研究参考，未经过崂山国家实验室授权不得商用。

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