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本发明公开了一种基于无监督学习的芯片X射线图像缺陷检测方法，包括：对芯片X光图像进行预处理；将预处理后的芯片X光图像输入具有记忆空间的量子化自编码器，得到重构无缺陷图像；计算重构无缺陷图像与芯片X光图像的差异图像，并对差异图像进行阈值处理，...
该专利属于中山大学所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学授权不得商用。

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