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本发明涉及故障注入技术领域，尤其涉及一种面向功能安全的故障注入方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括：在FPGA中例化待测模块；基于例化模块，利用tcl脚本生成故障注入负载文件，包含lut和reg两部分；对故障注入负载文件进行解析，...
该专利属于北京邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京邮电大学授权不得商用。

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