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本申请涉及一种芯片与调试装置的安全调试方法、调试装置和芯片，安全调试方法包括如下步骤：由芯片在调试装置发送的调试次数编号与芯片中记录的调试次数编号一致的情况下，生成真随机数；由调试装置基于真随机数和调试次数编号得到第二会话密钥；基于第二时延...
该专利属于北京芯驰半导体科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京芯驰半导体科技股份有限公司授权不得商用。

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