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本技术提供了一种γ能谱仪的探测器上检测样品对中盘，通过对中盘使检测样品的中心线与γ能谱仪的探测器的中心线对齐，所述对中盘的底部与探测器连接，对中盘上由外到内均布设置有多层逐层降低的圆环形台阶，所有圆环形台阶的竖直中心线均与探测器的竖直中心线...
该专利属于许昌市产品质量检验检测与研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过许昌市产品质量检验检测与研究中心授权不得商用。

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