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本技术涉及主板生产领域,公开一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体,测试装置本体两侧均开设有第一矩形槽,两个第一矩形槽中均滑动连接有L型柱,两个第一矩形槽两端之间均转动连接有螺纹杆,两个螺纹杆均螺纹贯穿相靠近的L型柱,两个L型柱上均开设...该专利属于晨冕智慧(武汉)科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过晨冕智慧(武汉)科技有限公司授权不得商用。
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本技术涉及主板生产领域,公开一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体,测试装置本体两侧均开设有第一矩形槽,两个第一矩形槽中均滑动连接有L型柱,两个第一矩形槽两端之间均转动连接有螺纹杆,两个螺纹杆均螺纹贯穿相靠近的L型柱,两个L型柱上均开设...