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本发明提供一种金属化薄膜电容器多参量寿命评估方法，金属化薄膜电容器在直流与短时过电压脉冲叠加的复杂环境下，易造成金属化膜的劣化与容值损失等现象。目前寿命评估方法不适用于脉冲叠加直流电场及高温下的寿命预测，导致金属化薄膜电容器预测寿命与实际寿...
该专利属于中国科学院电工研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电工研究所授权不得商用。

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