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用于弯曲应力测量的薄膜应变计、齿轮及制备方法技术
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下载用于弯曲应力测量的薄膜应变计、齿轮及制备方法的技术资料
文档序号:42375576
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本发明属于齿轮应力检测技术领域,具体公开了一种用于弯曲应力测量的薄膜应变计、齿轮及制备方法,薄膜应变计制备方法包括如下步骤:对齿轮端面进行磨削抛光,对齿轮整体及所使用的掩膜版、工装夹具和靶材清洗并吹干;在齿轮的端面整面采用直流磁控溅射方法和...
该专利属于重庆大学所有,仅供学习研究参考,未经过重庆大学授权不得商用。
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