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本发明涉及信息安全和数据采集技术领域,具体是一种连续采集、分析随机数芯片质量的系统。系统包括被测芯片和测试装置,被测芯片位于高低温箱内,测试装置位于高低温箱外,测试装置与被测芯片通过带屏蔽排线相连,设有供电源为被测芯片提供不同大小的测试电压...该专利属于山东华翼微电子技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过山东华翼微电子技术股份有限公司授权不得商用。
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