下载用于拉制氧含量面内分布均匀的单晶衬底硅片的方法的技术资料

文档序号:42304839

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本发明提供用于拉制氧含量面内分布均匀的单晶衬底硅片的方法,涉及单晶硅制备方法的技术领域,在直拉单晶的过程中,在石英坩埚两侧施加CUSP磁场,在预定磁场强度下,CUSP磁场与石英坩埚同步上升,能够更有效地抑制熔汤的对流,增大边界扩散层厚度,在...
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