下载基于改进DeSTSeg的无监督晶粒缺陷异常检测方法的技术资料

文档序号:42304819

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本发明公开了一种基于改进DeSTSeg的无监督晶粒缺陷异常检测方法,属于数字图像处理领域。所述方法基于知识蒸馏网络对晶粒缺陷进行异常检测,对DeSTSeg网络进行改进,在教师网络和学生网络的多层特征输出融合过程中,引入多尺度特征融合模块,用...
该专利属于江南大学所有,仅供学习研究参考,未经过江南大学授权不得商用。

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