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本申请公开了一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质；涉及芯片测试领域；方法包括：响应于测试配置指令生成测试配置文件，并将测试配置文件下发至测试设备；响应于测试启动指令，根据测试配置文件，同时对批量的待测芯片进行并行测试处理；对...
该专利属于深圳市晶存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶存科技有限公司授权不得商用。

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