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本申请公开了一种压力状态下晶态相变材料的能带结构的分析方法以及分析系统。所述分析方法包括以下步骤：S1.获取晶态相变材料的原始晶胞结构，并根据第一性原理，获得与待分析压力对应的变形后的晶胞结构；S2.在变形后的晶胞结构的第一布里渊区中进行采...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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