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本技术公开了一种直调激光器与TR组件测试用开关矩阵,涉及直调激光器与TR组件测试技术领域,为解决现有技术中直调激光器、发射组件产品测试指标多、供电及接口要求不同,传统人工测试方式效率低下,测试重复性和一致性差的问题。所述射频开关矩阵主要由射...该专利属于上海正测通科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海正测通科技股份有限公司授权不得商用。
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本技术公开了一种直调激光器与TR组件测试用开关矩阵,涉及直调激光器与TR组件测试技术领域,为解决现有技术中直调激光器、发射组件产品测试指标多、供电及接口要求不同,传统人工测试方式效率低下,测试重复性和一致性差的问题。所述射频开关矩阵主要由射...